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日本反質(zhì)子質(zhì)量測定精度破紀錄 (2006-06-14)

發(fā)布時間:2007-12-04 作者: 來源:新華 瀏覽:993
日本科學家8日宣布,他們對反質(zhì)子質(zhì)量的測定已精確到小數(shù)點后10位,打破了由他們自己保持的精確到小數(shù)點后9位的紀錄。   據(jù)共同社報道,東京大學教授早野龍五等人使用獲得2005年諾貝爾物理學獎的光梳技術(shù),先制造能精密測定頻率的激光,再用這種激光轟擊“反質(zhì)子氦”。所謂“反質(zhì)子氦”,是指用一個帶負電的反質(zhì)子置換氦原子兩個電子中的一個所得到的粒子。以“反質(zhì)子氦”的發(fā)光方式為基礎(chǔ),就可計算出反質(zhì)子的質(zhì)量。   科學家說,他們用這種方法成功使反質(zhì)子的質(zhì)量測定精確到小數(shù)點后10位。   現(xiàn)有理論認為,反質(zhì)子的質(zhì)量與質(zhì)子相同。根據(jù)本次測算結(jié)果,反質(zhì)子的質(zhì)量約為電子質(zhì)量的1836倍,在這個精度上反質(zhì)子的質(zhì)量與質(zhì)子質(zhì)量確實一致。
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