吉時利儀器公司 （NYSE:KEI）是為不斷增長的測量需求提供解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，今日發(fā)布了美國AMD公司（NYSE：AMD）選用吉時利（Keithley）公司制造的S680型直流/射頻 (DC/RF)半導(dǎo)體 參數(shù)自動測試系統(tǒng)，以支持AMD公司位于德國德累斯頓市技術(shù)發(fā)展水平最高的300mm Fab 36公司的先進邏輯芯片的全部生產(chǎn)。 S680直流/射頻 (DC/RF) DC/RF系統(tǒng)的優(yōu)點包括先進的測量能力、更較低的所有權(quán)保有成本、較高很高的信息通過產(chǎn)量以及較強有力的本地區(qū)服務(wù)和技術(shù)支持。 “AMD公司選用吉時利S680型參數(shù)測試系統(tǒng)表明說明該系統(tǒng)已成功成為在半導(dǎo)體芯片大批量制造時過程中進行過程控制的重要設(shè)備，提供晶圓圓片級電氣測量可選用的參數(shù)測試儀良好選擇?！奔獣r利公司商業(yè)務(wù)發(fā)展部副總經(jīng)理總裁Mark Hoersten先生說，“無論是高性能邏輯電路制造商，還是高性能模擬集成電路制造商，都逐漸轉(zhuǎn)而要求吉時利公司為他們正在其最先進的實驗室中進行的下一代半導(dǎo)體工藝提供應(yīng)電氣參數(shù)測試儀機臺。 這些工藝包括目前正在部署的90nm工藝和65nm工藝，連同他們正在使用的工藝，這將有助于開發(fā)行業(yè)內(nèi)最尖端的45nm工藝?！? 吉時利公司的S680型直流/射頻 (DC/RF)參數(shù) DC/RF測試系統(tǒng)儀于2003年首次推向市場，專為無線通訊和高速數(shù)字器件的晶圓圓片級參數(shù)測試而設(shè)計。 該測試機臺儀通過將兩個決定關(guān)鍵性的測試功能――DC和RF測試功能綜合到一個測試序列中，集成到單個系統(tǒng)中從而大大提高了總的信息通過測試產(chǎn)量，因為DC和RF測試功能可綜合到相同的測試序列中。 該集成方法刪去排除了較長的校準(zhǔn)定標(biāo)和測試時間，也無需單獨、昂貴的且僅用于RF的探針臺而這在獨立的RF測試解決方案中則是具有代表性的一段時間具有代表性。 該方法也無需獨立的、而昂貴的、且僅RF測試才使用的且僅用于RF的探測器。 另外，再加上此外，吉時利公司半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)獨有的并行測試等能力也可使得IC制造商能將其測試成本降到最低。